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CSK-IA超聲波試塊
CSK-IA超聲波試塊 是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況
時間:2023-05-21型號:廠商性質:生產廠家瀏覽量:2599查看詳細介紹
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