試塊 NB/T47013-2015 無損檢測試塊分標準試塊和參考試塊兩類。標準試塊（或校準試塊）是指具有規定的化學成分、表面粗糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，可用以評定和校準超聲波檢測設備；參考試塊（或對比試塊）是指受檢件（被檢工件）或材料化學成分相似，含有意義明確的參考反射體的試塊。它們用以調節超聲波檢測設備的幅度和/或時間分度，以將所檢出的不連續信號與已知反射體產生的信號向比較。

試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度

試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;