·適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。 ·可配備多種不同頻率，不同晶片尺寸的雙晶探頭使用。 ·具有探頭零點校準，兩點校準功能，可對系統誤差進行自動修正。 ·已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度。 ·具有耦合狀態提示功能。

·適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。 ·可配備多種不同頻率，不同晶片尺寸的雙晶探頭使用。 ·具有探頭零點校準，兩點校準功能，可對系統誤差進行自動修正。 ·已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度。 ·具有耦合狀態提示功能。

一、產品簡介： ·采用了磁性和渦流兩種測厚方法，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。 ·分體（傳感器與儀器之間通過引線連接）、兩用（F型N型合一）。 ·*的溫度補償算法。 ·具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。 ·具有統計功能：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）

適合測量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。

適合測量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。